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高溫超聲波測厚儀的測量誤差受多種因素影響,不同型號的儀器測量誤差也有所不同,以下是一些常見的情況:
- 儀器自身精度:如LA-30高溫超聲波測厚儀,測量范圍在1.0-99.9mm時,誤差為±(5h‰±0.1mm);測量范圍在1.0-225.0mm時,誤差為±(1h%+1)mm。
- 探頭類型:不同探頭測量精度有別,需配高溫耦合劑,未明確給出誤差范圍,但通常高溫探頭在高溫環(huán)境下的誤差比常規(guī)探頭大。
- 耦合效果:耦合劑的種類、使用量及涂抹方式等影響耦合效果,進而影響測量精度。若耦合劑選擇或使用不當,會產(chǎn)生較大誤差,如耦合劑過多,儀器示值可能為耦合劑層厚度值。
- 材料特性:不同材料聲速不同,若聲速選擇錯誤或材料內部存在缺陷、應力等,都會導致測量誤差,如層疊材料、復合非均質材料等特殊材料,測量難度大,誤差也相對較大。
- 測量環(huán)境:高溫環(huán)境會使材料聲速發(fā)生變化,一般固體材料溫度每升高100°C,聲速下降1%,若不進行溫度補償校準,會產(chǎn)生較大誤差,此外,測量時的環(huán)境溫度、濕度等也可能對儀器性能及測量結果有一定影響。
- 操作因素:操作人員的技術水平和經(jīng)驗也會影響測量結果,如探頭放置位置、施壓大小、測量角度等,若操作不當,也會引入誤差。
ORIETG®系列X2測厚儀,采用電磁超聲EMAT傳感器技術,具備超聲測厚與渦流涂層測厚功能,是一款無需聲耦合劑、
非接觸式厚度測量儀器,可實現(xiàn)金屬或導磁性物質的厚度測量和表面涂層厚度測量。